深圳市展业达鸿科技有限公司
品牌 |
其他 |
型号 |
高分辨条形测试卡 |
类型 |
高分辨条形测试卡 |
材质 |
其他 |
适用范围 |
检测X射线机等透视成像设备 |
外形尺寸 |
-mm |
重量 |
-kg |
厂家 |
夸特QUART |
线对模式
高分辨率条形测试模式
X 射线测试模式用于高对比度和/或空间分辨率测量。该程序在X射线QA和服务方面有着悠久的传统,易于执行。测试模式用于薄膜屏幕系统、放大技术和X射线成像系统的分辨率能力。图案由各种铅厚度组成。每个图案通常相应的厚度。每个测试模式通常以塑料封闭,即组织等价物。每个模式的分辨率范围因测试类型而异。
高分辨率条形测试模式技术规格:
类型 1: 1.0...4.86 LP/mm / 16 组
类型 1-83: 0.5...5.0 LP/mm / 16 组
类型 2: 0.25...3.33 LP/mm / 16 组
类型 4A: 0.5...8.0 LP/mm / 2x 9 组
类型 4B: 0.5...5.5 LP/mm / 2x 13 组
类型 4C: 1.4...8.0 LP/mm / 2x 16 组
类型 6-2.8: 2.8...5.0 LP/mm / 2x 6 组
类型 10: 0.25...2.0 LP/mm / 6 组
类型 15: 0.315...1.25 LP/mm / 2x 7 组
类型 16: 0.5...4.0 LP/mm / 7 组
类型 17: 0.177...3.33 LP/mm / 18 组
类型 18: 0.5...5.0 LP/mm / 21 组 / 2 添加对比字段
类型 18a: 0.5...7,1 LP/mm / 24 组 / 2 添加对比字段
类型 18b: 0.5...10.0 LP/mm / 27 组 / 2 添加对比字段
类型 18c: 0.5...16.6 LP/mm / 31 组 / 2 添加对比字段
类型 18d: 0.5...16.6 LP/mm / 32 组 / 2 添加对比字段
类型 18e: 0.5...16.6 LP/mm / 30 组 / 2 添加对比字段
类型 21: 2.0...10.0 LP/mm / 16 组
类型 22: 3.54...4.86 LP/mm / 2x 4 组
类型 22A: 4.0...7.14 LP/mm / 2x 4 组
类型 22B: 3.93...5.5 LP/mm / 2x 4 组
类型 38: 0.6...5.0 LP/mm / 20 组
类型 41: 0.6...3.4 LP/mm / 2x 15 组
类型 42: 2.0...6.0 LP/mm / 2x 14 组
类型 43: 3.4...10.0 LP/mm / 2x 15 组
类型 46: 0.8...9.5 LP/mm / 2x 15 组
类型 52: 0.05 = 0.1 = 0.25... 3.4 = 3.7 LP/mm / 19 组
类型 53: 0.25 = 0.5... 10.0... 6.0 LP/mm / 23 组
类型 54: 0.5 = 0.1 = 0.25... 3.55... 2.8 LP/mm / 28 组
类型 56: 0.5 = 0.1 = 0.25... 3.55... 2.8 LP/mm / 48 组
类型 68: 1.4...8.4 LP/mm / 2x 10 组
类型 80: 2.0...6.0 LP/mm / 2x 12 组
类型 81: 0.6...10.0 LP/mm / 26 组
类型 84: 0.6...5.0 LP/mm / 2x 16 组
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